Հարթ վահանակի ցուցադրման (FPD) արտադրության ընթացքում կատարվում են վահանակների ֆունկցիոնալությունը ստուգելու թեստեր և արտադրական գործընթացը գնահատելու փորձարկումներ:
Փորձարկում զանգվածի գործընթացում
Զանգվածի գործընթացում վահանակի գործառույթը ստուգելու համար զանգվածի փորձարկումն իրականացվում է զանգվածի փորձարկիչի, զանգվածի զոնդի և զոնդային միավորի միջոցով:Այս թեստը նախատեսված է ապակե հիմքերի վրա վահանակների համար ձևավորված TFT զանգվածի սխեմաների ֆունկցիոնալությունը ստուգելու և կոտրված լարերը կամ շորտեր հայտնաբերելու համար:
Միևնույն ժամանակ, զանգվածային գործընթացում գործընթացը փորձարկելու համար գործընթացի հաջողությունը ստուգելու և նախորդ գործընթացին հետադարձ կապ հաստատելու համար, TEG թեստի համար օգտագործվում են DC պարամետրերի ստուգիչ, TEG զոնդ և զոնդային միավոր:(«TEG»-ը նշանակում է Test Element Group, ներառյալ TFT-ները, կոնդենսիվ տարրերը, մետաղալարերի տարրերը և զանգվածի միացման այլ տարրեր:)
Փորձարկում միավորի/մոդուլի գործընթացում
Բջջային գործընթացում և մոդուլի գործընթացում վահանակի գործառույթը ստուգելու համար իրականացվել են լուսավորության թեստեր:
Վահանակն ակտիվացված և լուսավորված է՝ ցուցադրելու փորձնական օրինաչափություն՝ ստուգելու վահանակի աշխատանքը, կետային թերությունները, գծի թերությունները, գույնի գույնը, քրոմատիկ շեղումը (ոչ միատեսակությունը), հակադրությունը և այլն:
Գոյություն ունի ստուգման երկու եղանակ՝ օպերատորի վիզուալ վահանակի ստուգում և վահանակի ավտոմատացված ստուգում՝ օգտագործելով CCD տեսախցիկը, որն ավտոմատ կերպով կատարում է թերությունների հայտնաբերում և անցումային/անհաջող փորձարկում:
Ստուգման համար օգտագործվում են բջիջների փորձարկիչներ, բջջային զոնդեր և զոնդային միավորներ:
Մոդուլի թեստը նաև օգտագործում է մուրայի հայտնաբերման և փոխհատուցման համակարգ, որն ավտոմատ կերպով հայտնաբերում է մուրան կամ անհավասարությունը էկրանում և վերացնում մուրան՝ լույսի կառավարմամբ փոխհատուցմամբ:
Հրապարակման ժամանակը՝ Հունվար-18-2022